בעשאַס די מאַנופאַקטורינג פון פלאַך טאַפליע אַרויסווייַזן (FPD), טעסץ צו קאָנטראָלירן די פאַנגקשאַנאַליטי פון די פּאַנאַלז און טעסץ צו אָפּשאַצן די מאַנופאַקטורינג פּראָצעס זענען דורכגעקאָכט.
טעסטינג בעשאַס די מענגע פּראָצעס
אין סדר צו פּרובירן די טאַפליע פונקציע אין די מענגע פּראָצעס, די מענגע פּרובירן איז דורכגעקאָכט מיט אַ מענגע טעסטער, אַ מענגע זאָנד און אַ זאָנד אַפּאַראַט.דער פּראָבע איז דיזיינד צו פּרובירן די פאַנגקשאַנאַליטי פון TFT מענגע סערקאַץ געשאפן פֿאַר פּאַנאַלז אויף גלאז סאַבסטרייץ און צו דעטעקט קיין צעבראכן ווירעס אָדער קורצע הייזלעך.
אין דער זעלביקער צייט, אין סדר צו פּרובירן דעם פּראָצעס אין די מענגע פּראָצעס צו קאָנטראָלירן די הצלחה פון דעם פּראָצעס און באַמערקונגען די פריערדיקע פּראָצעס, אַ DC פּאַראַמעטער טעסטער, TEG זאָנד און זאָנד אַפּאַראַט זענען געניצט פֿאַר TEG פּרובירן.("TEG" שטייט פֿאַר טעסט עלעמענט גרופע, אַרייַנגערעכנט TFTs, קאַפּאַסיטיווע עלעמענטן, דראָט עלעמענטן און אנדערע עלעמענטן פון די מענגע קרייַז.)
טעסטינג אין אַפּאַראַט / מאָדולע פּראָצעס
אין סדר צו פּרובירן די טאַפליע פונקציע אין צעל פּראָצעס און מאָדולע פּראָצעס, לייטינג טעסץ זענען דורכגעקאָכט.
די טאַפליע איז אַקטיווייטיד און ילומאַנייטאַד צו ווייַזן אַ פּראָבע מוסטער צו קאָנטראָלירן טאַפליע אָפּעראַציע, פונט חסרונות, שורה חסרונות, טשראָמאַטיסיטי, טשראָמאַטיק אַבעריישאַן (ניט-וניפאָרמאַטי), קאַנטראַסט, עטק.
עס זענען צוויי דורכקוק מעטהאָדס: אָפּעראַטאָר וויסואַל טאַפליע דורכקוק און אָטאַמייטיד טאַפליע דורכקוק ניצן אַ CCD אַפּאַראַט וואָס אויטאָמאַטיש פּערפאָרמז דעפעקט דיטעקשאַן און פאָרן / דורכפאַל טעסטינג.
צעל טעסטערס, צעל פּראָבעס און זאָנד וניץ זענען געניצט פֿאַר דורכקוק.
די מאָדולע טעסט אויך ניצט אַ מוראַ דיטעקשאַן און פאַרגיטיקונג סיסטעם וואָס אויטאָמאַטיש דיטעקץ מוראַ אָדער אַניוואַננאַס אין די אַרויסווייַזן און ילימאַנייץ מוראַ מיט ליכט-קאַנטראָולד פאַרגיטיקונג.
פּאָסטן צייט: יאנואר 18-2022